丹東百特儀器有限公司新發布的BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀，通過創新性地整合沉降法檢測技術，成功將納米粒度儀的檢測范圍擴展至微米級領域。這一技術突破有效彌補了傳統動態光散射技術在大顆粒檢測方面的局限性，為科研和工業領域提供了更全面的顆粒表征解決方案。

技術原理創新
該儀器在0°角位置設置了高靈敏度PD檢測器，通過實時監測透射光強隨時間的變化，基于斯托克斯方程精確計算顆粒的粒徑分布。測試過程中需要輸入分散介質的折射率、密度、粘度等關鍵參數，以及樣品本身的物理特性數據。這種沉降法測得的是顆粒的斯托克斯徑，特別適合幾微米至幾十微米范圍內的顆粒檢測。

實驗驗證
研究團隊選取了三種典型材料進行對比測試：

1. 硅酸鹽顆粒

2. PMMA顆粒

3. 氧化鋁顆粒

實驗采用嚴格的對比方法：

• 使用Bettersize2600激光粒度分析儀獲取基準D50值

• 通過BetterPyc 380多功能真密度儀測定樣品密度

• 采用標準化的樣品制備流程：樣品與水按比例混合后置于10mm光程方形樣品池

• 測試前進行120秒恒溫平衡，確保溫度穩定性

數據對比分析
測試結果顯示（見表1），在2-60μm范圍內，BeNano 180 Zeta Max通過沉降法獲得的斯托克斯徑D50值與激光粒度儀測得的體積中徑D50值具有高度一致性。這一重要發現證實了該儀器在微米級顆粒檢測方面的可靠性和準確性。

技術優勢與應用價值
此項創新技術具有以下顯著特點：

1. 檢測范圍廣：實現納米至微米級別的全范圍覆蓋

2. 數據精準：與傳統激光衍射法結果高度吻合

3. 操作簡便：標準化的測試流程確保結果可重復性

4. 應用廣泛：適用于多種材質的微米級顆粒檢測

這一技術突破不僅拓展了納米粒度儀的應用領域，更為材料科學、制藥工業等需要精確顆粒表征的領域提供了新的檢測手段。百特儀器持續的技術創新再次證明了其在顆粒表征領域的地位。