近日，丹東百特儀器有限公司自主研發的BeNano納米粒度及Zeta電位分析儀正式通過中國分析測試協會組織的成果評價。由中國科學院納米中心王孝平研究員領銜的專家組經過嚴格評審，一致認定該儀器綜合性能達到國際同類產品先進水平，并在多項核心技術上實現重要突破。

權威認證彰顯技術實力

此次成果評價會由中國分析測試協會技術部主任吳淑琪研究員主持，匯聚了來自中國科學院、東北大學、北方工業大學等機構的知名專家。專家組實地考察了百特儀器的研發中心、制造車間和質檢實驗室，對該公司十六年來在納米顆粒表征領域的技術積累和質量管理體系給予高度評價。

百特儀器總經理董青云向專家組介紹了公司30年的發展歷程，產品總監寧輝博士詳細匯報了BeNano系列產品的研發背景、技術特點和市場表現。經過資料審閱、現場質詢和儀器運行測試等環節，專家組最終給出了"國際先進水平"的權威認定。

技術創新亮點紛呈

BeNano分析儀集成了動態光散射、電泳光散射等六大光學技術，可同時實現納米粒徑、Zeta電位、分子量等12種關鍵參數的精確測量。其創新性主要體現在：

1. 檢測能力突破：采用"消光法動態光散射(LEDLS)"技術，實現了108-1016個/mL高濃度顆粒的精準計數；創新性地將沉降法融入納米粒度檢測，將粒徑檢測上限擴展至50μm。

2. 分辨率提升：通過"動靜態流動模式"設計，將傳統儀器的粒徑分辨率從1:3提升至1:1.3，并能提供絕對分子量及其分布信息。

3. 測量精度優化：應用"相位分析光散射技術"，顯著提高了低遷移率或高鹽環境下的Zeta電位測量精度；"毛細管微量樣品池技術"僅需1.5μL樣品即可完成檢測。

4. 多功能集成：獨特的楔形樣品池與光斑識別技術實現了0.1%精度的液體折射率檢測；微流變檢測技術可深入表征復雜流體粘彈性；多角度散射光設計支持0.1ppm至40% w/v的寬濃度范圍檢測。

市場認可與知識產權

目前，BeNano系列產品已成功應用于哈佛大學、劍橋大學等國際知名高校，以及醫藥、食品、納米材料等多個產業領域。該產品已申請19項ZhuanLi（授權11項），獲得軟件著作權1項，充分體現了百特儀器在顆粒表征領域的技術創新能力。

百特儀器表示，此次通過國家級行業協會的權威評價，是對公司30年堅持自主創新的充分肯定。未來，公司將繼續深耕顆粒表征領域，為用戶提供更先進、可靠的納米顆粒分析解決方案。