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03
2025-12
?如何準(zhǔn)確描述與解讀粒徑分布：從數(shù)據(jù)到洞察
在成功測量出樣品的粒徑分布后，如何準(zhǔn)確、全面地描述和解讀數(shù)據(jù)就成為關(guān)鍵一步。粒徑分布的描述方式直接影響了我們能否從中提取出有價值的信息，以指導(dǎo)研發(fā)、優(yōu)化工藝和控制產(chǎn)品質(zhì)量。通常，我們可以通過三種主要方 ...
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03
2025-12
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26
2025-11
深入解析粒徑分布：概念、測量方法與應(yīng)用
粒徑分布是顆粒材料科學(xué)中最核心的參數(shù)之一，它直接影響著從藥品藥效到涂料光澤度等眾多產(chǎn)品的關(guān)鍵性能。本文將系統(tǒng)介紹粒徑分布的概念、表示方法、測量技術(shù)及其在工業(yè)中的應(yīng)用。一、什么是粒徑分布？粒徑分布 描述 ...
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26
2025-11
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19
2025-11
多粒徑組分體系分析：沉降法粒度檢測技術(shù)研究
粒度分析是材料表征的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，尤其在多組分混合體系的研究中，準(zhǔn)確測定各組分粒徑分布對材料性能評估至關(guān)重要。動態(tài)光散射技術(shù)雖然在納米粒度分析中表現(xiàn)優(yōu)異，但在幾微米至幾十微米范圍內(nèi)存在檢測限制。沉降法粒度 ...
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2025-11
多粒徑組分體系分析：沉降法粒度檢測技術(shù)研究
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12
2025-11
BeNano 180 Zeta Max運用沉降原理精準(zhǔn)測定硅酸鋯顆粒粒徑
在納米粒度分析領(lǐng)域，動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)因其對均勻穩(wěn)定樣品具有卓越的檢測能力而被廣泛應(yīng)用，其理想檢測范圍通常介于幾納米到亞微米之間。然而，當(dāng)面對具有沉降特性的大顆粒樣品時，DLS技術(shù)的局限性便顯現(xiàn) ...
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2025-11
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05
2025-11
納米顆粒濃度檢測新突破：BeNano 180 Zeta Max實現(xiàn)精準(zhǔn)量化分析
在環(huán)境監(jiān)測、生物醫(yī)藥、食品安全等眾多領(lǐng)域，納米顆粒的濃度檢測一直是科研和質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)檢測方法各具局限，而丹東百特儀器有限公司最新推出的BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zet ...
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2025-11
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